Teradyne Magnum PV 存储器自动测试系统
Teradyne Magnum PV 存储器 ATE 测试系统，Magnum IIx 系列基础量产机型，软硬件与 XV、GV 完全兼容，板卡、测试程序可互通复用，最大支持 640 路数字 I/O 通道。适配 NOR/NAND/SRAM/MCP 等各类存储芯片，也可测试带 Flash 的简单 MCU，兼顾研发调试与中小批量量产，二手市场存量充足，支持晶圆探针测试与成品终测。
详情介绍
产品概述：
Magnum PV 属于 Teradyne Magnum IIx 系列基础量产存储测试机型，软硬件与 XV、GV 机型完全兼容，板卡、DSA 测试板、测试程序可以直接跨机型迁移复用。整机为中小批量存储芯片量产设计，通道配置灵活，维护简单，二手市场流通量最大，可兼顾研发调试与批量生产，支持晶圆 CP 探针测试与成品 FT 终测。
核心特点：
1. 模块化基础量产架构，高性价比
标准 5 插槽机箱模块化硬件设计，数字 I/O 通道以 128 为单位扩展，最大支持 640 路数字 I/O 引脚，可按需选配 DPS、VRC、MPAC 电源模拟板卡。整机体积适中，无需液冷，运维成本低，适配多品种换线生产，可对接探针台、分选机。原有 XV、GV 的测试治具、程序可直接迁移，保护硬件资产投入。
2. 完整存储器件测试能力
搭载近待测器件测试架构，保障高速测试信号完整性。支持闪存全速读写、耐久测试、故障扫描筛查，向量存储深度充足，可完成 NOR、NAND、SPI Flash、SRAM 等各类存储芯片测试，也可兼顾带嵌入式 Flash 的简单 MCU、低端逻辑器件。支持多站点并行测试，有效降低单颗芯片测试成本。
3. 成熟统一软件生态
配套 NextStep、TestBuilder R 测试软件，覆盖程序开发调试、量产跑测、良率数据分析、故障日志导出。与 XV、GV 程序完全互通，其他机型开发好的程序直接导入运行，减少二次开发工作量。
典型应用器件：
NOR Flash、NAND Flash、SPI 串行闪存、SRAM、MCP、eMCP、带嵌入式 Flash 的 MCU、低端逻辑器件等。
版本定位说明：
Magnum PV：基础量产机型，最大 640 通道，性价比高，二手市场主流，兼顾研发与中小批量生产。 Magnum XV：中端混合机型，通道规模介于 PV 与 GV 之间，研发 + 中小批量混合生产。 Magnum GV：旗舰高通道量产机型，万级数字引脚，面向大型封测厂大批量存储芯片生产。
商用场景：
研发实验室样品验证、程序调试；中小型封测厂中小批量量产；晶圆探针 CP 测试、成品终测 FT；二手设备降本量产优选。
