Advantest T2000 SoC 自动测试系统
Advantest T2000 SoCATE 测试系统，模块化可配测试平台，支持风冷、液冷方案，擅长图像传感器与数模混合芯片，多站点并行测试，适配研发及中小批量生产，支持晶圆探针、成品终测。
详情介绍
产品概述：
T2000 为高性价比模块化 SoC 测试平台，支持风冷 / 液冷两种配置，通道规模灵活可调，在图像传感器、数模混合芯片领域优势突出。二手设备适合研发验证、多品种中小批量量产，支持晶圆 CP 与成品 FT 测试。
核心特点：
1. 灵活可配置模块化架构 机箱插槽数量可选，风冷版本适配研发小批量，液冷版本面向量产，最大支持 8192 测试通道。板卡配置灵活，数字、模拟、图像采集模块按需选配，多站点并行测试，初始投入成本可控。
2. 图像传感器与混合信号专项能力突出 搭载专用图像采集模块，支持高速 MIPI 接口测试，擅长 CIS 图像传感器、高精度数模混合器件，可完成像素缺陷、时序、功耗全套测试，向量深度充足，缺陷筛查能力强。
3. 标准化软件平台 基于 OPENSTAR 架构，软件覆盖调试、量产、数据分析，同一平台可快速切换不同品类芯片测试程序，换线便捷。
典型应用器件：
CMOS 图像传感器 CIS、模拟芯片、数模混合器件、MCU、电源管理芯片、中小规模 SoC。
商用场景：
芯片研发验证；多品种中小批量成品量产；晶圆 CP 测试；二手设备用于研发产线、中小规模封测厂降本扩产。 简短版（网站 / 产品目录） Advantest T2000 SoC ATE 测试系统，模块化可配测试平台，支持风冷、液冷方案，擅长图像传感器与数模混合芯片，多站点并行测试，适配研发及中小批量生产，支持晶圆探针、成品终测。
